小型恒溫恒濕試驗箱，微型可程式高低溫箱

小型恒溫恒濕試驗箱，微型可程式高低溫箱簡(jiǎn)介：

  小型恒溫恒濕試驗箱是模擬GB/T10586-2006濕熱試驗箱技術(shù)條件、GB/T10589-2008低溫試驗箱等技術(shù)條件；GB/T11158-2008高溫試驗箱技術(shù)條件制造，主要為航天、hang空、石油、化工、軍事、汽車(chē)（摩托車(chē)）、船舶、電子、通訊等科研及生產(chǎn)單位提供溫濕度變化環(huán)境，模擬試品在溫濕度變化環(huán)境條件下加載模擬振動(dòng)的適應性試驗及對電子元器件的安全性測試提供可靠性試驗、產(chǎn)品篩選等。

小型恒溫恒濕試驗箱，微型可程式高低溫箱主要技術(shù)參數：

工作室尺寸：300×300×335mm   (深×寬×高)
試品尺寸：小于250*250*300
外形尺寸：460×810×885   (深×寬×高)
溫度范圍：-120/-75/-40℃～+150℃
溫度波動(dòng)度：≤±0.5℃ 
溫度均勻度： ≤±2℃
溫度偏差： ≤±2℃                  
升溫速率： -120℃到+150℃≤60min
降溫速率： 25℃到-120℃，≤120min
濕度范圍： 20%到98%
濕度偏差 ：≤±3%RH (>75%RH) ；≤±5%RH (≤75%RH)
濕度波動(dòng)度： ≤±2%RH
微型可程式高低溫箱滿(mǎn)足標準： 

GB10586-2006濕熱試驗箱技術(shù)條件；
GB10592-2008高、低溫試驗箱技術(shù)條件； 
GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗A：低溫試驗方法；
GB/T 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗B：高溫試驗方法；
GB/T 2423.3-2006電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程試驗Cab： 恒定濕熱試驗方法；
GB/T 2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗Db： 交變濕熱；
GJB150.3高溫試驗；
GJB150.4低溫試驗；
GJB150.9濕熱試驗；